3D半導体メモリの特性評価や解析
WDB 株式会社 横浜支社
・半導体メモリサンプルの測定準備、実施 評価ボードへのサンプル挿入(手作業で1ボードあたり約40個をセット)専用測定プログラムの実行(C言語を使用) ・測定プログラムのカスタマイズ(C言語) 測定条件に合わせたプログラムの変更や修正(希望があれば新規プログラム作成に携わることができる可能性があります) ・評価装置の使用スケジュール調整 複数ある評価装置の予約、他担当者との使用時間に関する調整 ・測定データの集計、整理、不良傾向の解析データをグラフ化し貼り付け、資料化 【変更範囲:変更なし】
