欠陥検査テクニシャン
マイクロンメモリ ジャパン株式会社 Ｆａｂ１５
・自動欠陥検査装置で検出された欠陥のＳＥＭレビューおよびマニュアル分類作業 ・異常品を流出させないために、正確な欠陥分類と判断を行う。 ・欠陥発生源特定後、データを通して関係部門へのフィードバック ・品質記録のために、レポート作成する。 ・歩留改善活動／コスト削減活動等を欠陥検査を通じてサポートする。 ・評価ロットの事前設定レビューおよびトラブル発生時のシューティング ・検査工程ＷＩＰの管理とコントロール 変更の範囲：変更なし
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